在磁性元器件設計的領(lǐng)域里，常用到的量測儀器便是LCR表。對于其量測頁(yè)面所顯示的許多L/C/R/Q/D/Y/G/B/Z/θ 量測結果，可能在許多使用到此類(lèi)儀器的工程人員腦海中常會(huì )浮現出一些問(wèn)號--- 電感、阻抗、Q值…是怎么量出來(lái)的？一般LCR表測試頻率在2MHz內，采用的方式多是四端子自動(dòng)平衡電橋法。本文以HP4284A為例，以簡(jiǎn)化的測試回路來(lái)呈現四端子Lc-Lp-Hp-Hc測試點(diǎn)所在位置，藉由測試信號源Vosc與待測物(DUT)的端電壓Vm的關(guān)系引出LCR表里的偵測元件所直接量測的三個(gè)參數。再透過(guò)這三個(gè)參數搭配待測器件的等效串、并聯(lián)模型，引導出其量測頁(yè)面所顯示的L/C/R/Q/D/Y/G/B/Z是如何在儀表內按相關(guān)設定的數學(xué)轉換公式，而得以間接被計算出來(lái)的。后提出了串、并聯(lián)模式的選用時(shí)機為何？引領(lǐng)讀者探索上述問(wèn)題的答案，希望能對有志于從事磁性元器件的設計者有所幫助！